高溫試驗(yàn)箱環(huán)境溫度受電路功率影響.老化板位置的變化.烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導(dǎo)致箱內(nèi)溫度場(chǎng)的變化。箱內(nèi)溫度場(chǎng)的劇烈變化會(huì)影響產(chǎn)品的正常老化試驗(yàn)，形成過應(yīng)力,，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致電路故障。對(duì)影響設(shè)備的溫度因素進(jìn)行了試驗(yàn)監(jiān)測(cè)和分析,，找出了影響溫度的主要原因和規(guī)律,，采取了更好的散熱措施，防止老化電路過溫故障,。

　　1.高溫試驗(yàn)箱內(nèi)的溫場(chǎng)變化受老化電路功率和散熱能力（風(fēng)速）的影響。該設(shè)備不僅控制電路的功率,，而且改變了電路的布局,。下層盡可能填充電路，逐漸從下層降低電路功率,，形成功率梯度,，與試驗(yàn)箱風(fēng)速一致，達(dá)到散熱的目的,。

 

　　2.試驗(yàn)箱采用電熱高溫干燥試驗(yàn)箱,，風(fēng)源來自底部。由于試驗(yàn)箱承載板和老化板,，風(fēng)速由下而上逐漸降低,。根據(jù)試驗(yàn)箱風(fēng)速的特點(diǎn)，老化板的放置方向可與試驗(yàn)箱的風(fēng)向一致,，增加通風(fēng)面積,，降低風(fēng)速屏障，增強(qiáng)高溫試驗(yàn)箱的散熱功能,。

 

　　3.根據(jù)改進(jìn)措施結(jié)合功率器件DC/DC電源為測(cè)試對(duì)象,，溫度設(shè)置為80℃，測(cè)試電路功率65W(1)逐漸增加到5200W(8)高溫試驗(yàn)箱電路功率520W比設(shè)定溫度高5.6℃,，符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求(8)℃或8%),。